A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron микроскоп Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Кыска сүрөттөмө:

15x ~ 800000x Schottky талаасы Чыгыш мылтык сканерлөөчү электрондук микроскоп
Туруктуу устундуу электр кубатын тездетүү Учурдагы жабдуу төмөнкү кубаттуулукта мыкты сүрөт
Өткөрүлбөгөн Үлгүнү Тикелей Байкаса болот, Төмөн Чыңалууда Чакыруунун Кажети жок
Оңой жана достук иштөө интерфейси, бардыгы Windows тутумундагы чычкан тарабынан башкарылат
Беш огу бар чоң үлгү бөлмөсү Эвцентрикалык моторлуу этабы Чоң көлөмү, Max Maximent Dia.320mm
Минималдуу заказ саны:1

Өнүмдүн чоо-жайы

Өнүмдүн тегдери

A63.7081_01.jpg

Продукциянын сүрөттөлүшү

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Электрондук микроскопту сканерлөө Pro FEG SEM
Чечим		1нм @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Чоңойтуу		15x ~ 800000x
Electron Gun		Schottky Emission Electron Gun
Электрондук нур ток		10pA ~ 0.3μA
Суу агымын тездетүү		0 ~ 30KV
Вакуум системасы		2 Ион насосу, Турбо молекулярдык насосу, Механикалык насосу
Detector		SE: Жогорку вакуумдук экинчи электрондук детектор (Детекторду коргоо менен)
		BSE: Жарым өткөргүч төрт сегментациялуу артка чачыранды детектор
		CCD
Үлгү этабы		Беш огу эвцентрикалык моторлоштурулган этап
Travel Range	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Максималдуу үлгүнүн диаметри		320mm
Өзгөртүү		EBL; STM; AFM; Жылытуу этабы; Крио баскычы; Чыңалуу баскычы; Микро нано манипулятор; SEM + Каптоочу машина; SEM + Лазер ж.б.
Аксессуарлар		Рентген детектору (EDS), EBSD, CL, WDS, каптоочу машина ж.б.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Артыкчылыгы жана учурлары

Сканерлөөчү электрондук микроскопия (сем) металлдардын, керамикалардын, жарым өткөргүчтөрдүн, минералдардын, биологиянын, полимерлердин, композиттердин жана нано-масштабдуу бир өлчөмдүү, эки өлчөмдүү жана үч өлчөмдүү материалдардын (экинчи электрондук сүрөт, Микрорегиондун чекитин, сызыгын жана үстүңкү компоненттерин талдоо үчүн колдонсо болот, мунай затта, геологияда, минералдык талаада, электроникада, жарым өткөргүч талаада, медицинада, биологияда, химиялык өнөр жайда, полимердик материалдык талаада, коомдук коопсуздукту, айыл чарбасын, токой чарбасын жана башка тармактарды кылмыш иликтөө.